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EPK涂層測厚儀的測量原理和優(yōu)點
更新時間:2019-04-19 點擊次數(shù):1366次
EPK涂層測厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂層厚度。
EPK涂層測厚儀具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);
具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL);
設有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標準偏差(S.DEV)
涂鍍層測厚儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型:
1.磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼,鐵,銀,鎳。此種方法測量精度高。
2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法:適用多層涂鍍層厚度的測量或者是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴,測量精度也不高。
4.電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層,一般精度也不高。測量起來比較其他幾種麻煩。
5.放射測厚法:此處儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上),適用于一些特殊場合。
國內目前使用為普遍的是第1/2兩種方法。
EPK涂層測厚儀的優(yōu)點:
零位穩(wěn)定:
所有EPK涂層測厚儀測量前都要求校準零位,可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測量準確的前提。一臺好的測厚儀校零后,可以長時間保持零位不漂移,確保準確測量。
無需校準:
多數(shù)測厚儀除了校零外,還需要用標準片進行調校。測量某一范圍厚度,激光測距儀的原理要用某一范圍的標準片調校。主要是不能滿足全范圍內的線性精度。不僅操作煩瑣,而且也會因標準片表面粗糙失效,增大系統(tǒng)誤差。
溫度補償:
涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術,以保證不同溫度下的測量精度。
EPK涂層測厚儀具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);
具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL);
設有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標準偏差(S.DEV)
涂鍍層測厚儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型:
1.磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼,鐵,銀,鎳。此種方法測量精度高。
2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法:適用多層涂鍍層厚度的測量或者是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴,測量精度也不高。
4.電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層,一般精度也不高。測量起來比較其他幾種麻煩。
5.放射測厚法:此處儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上),適用于一些特殊場合。
國內目前使用為普遍的是第1/2兩種方法。
EPK涂層測厚儀的優(yōu)點:
零位穩(wěn)定:
所有EPK涂層測厚儀測量前都要求校準零位,可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測量準確的前提。一臺好的測厚儀校零后,可以長時間保持零位不漂移,確保準確測量。
無需校準:
多數(shù)測厚儀除了校零外,還需要用標準片進行調校。測量某一范圍厚度,激光測距儀的原理要用某一范圍的標準片調校。主要是不能滿足全范圍內的線性精度。不僅操作煩瑣,而且也會因標準片表面粗糙失效,增大系統(tǒng)誤差。
溫度補償:
涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術,以保證不同溫度下的測量精度。