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MiniTest 70F、MiniTest 70FN涂層測(cè)厚儀內(nèi)置探頭 MiniTest 70 F ：內(nèi)置探頭，測(cè)量鐵基體上的非磁性涂層 MiniTest 70 FN ：內(nèi)置探頭，兩用型，測(cè)量鐵基體上的非磁性涂層，非鐵基體上的非導(dǎo)電涂層

QUINTSONIC 7 超聲波涂層測(cè)厚儀德國(guó)廠商直銷(xiāo) 儀器新增功能：可以將標(biāo)準(zhǔn)樣件的聲速內(nèi)置于儀器中。一旦某種介質(zhì)的聲速確定，聲速可以存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)供調(diào)取使用。這樣可以減少測(cè)量時(shí)的設(shè)置時(shí)間。 QuintSonic 7的突出功能: 儀器所采用的良好的傳感技術(shù)和創(chuàng)新的軟件實(shí)現(xiàn)了在應(yīng)用時(shí)高精度測(cè)量，在此之前是無(wú)法實(shí)現(xiàn)的。

MiniTest 740涂層測(cè)厚儀ElektrPhysik研發(fā) ElektrPhysik生產(chǎn)研發(fā)的涂層測(cè)厚儀MiniTest 740按照人體工學(xué)設(shè)計(jì)，外形很適合人手掌握，增加了測(cè)量速度設(shè)置選項(xiàng)，輕松變換測(cè)量需求。所有型號(hào)都配有一個(gè)超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。儀器具備聲、光報(bào)JING，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過(guò)極限值則用紅色LED燈提示。

GALVANOTEST2000庫(kù)倫測(cè)厚儀帶氣泵 GalvanoTest 2000庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀GALVANOTEST 可以測(cè)量70種以上鍍層/基體組合，可以測(cè)量平面、曲面上的鍍層，可以測(cè)量小零件、導(dǎo)線、線狀零件，預(yù)置9種金屬的測(cè)量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。用戶可另設(shè)置1種金屬的測(cè)量參數(shù)。篤摯儀器代理出售，上海有現(xiàn)貨。

MIKROTEST全自動(dòng)機(jī)械測(cè)厚儀供應(yīng)中心 MikroTest是一種非常堅(jiān)固的涂層厚度計(jì)，它以磁性吸引力原理測(cè)量鋼基材上非磁性涂層的厚度。 MikroTest Ni系列的特殊型號(hào)測(cè)量鋼上電鍍鎳涂層（MikroTest NiFe 50）和非鐵磁性基材（MikroTest Ni 50和Ni 100）的厚度。MikroTest耐溶劑，并通過(guò)金屬外殼極其耐用。磁鐵對(duì)于*的ElektroPhysik制造

華東MiniTest 70涂層測(cè)厚儀進(jìn)口現(xiàn)貨 MiniTest 70系列設(shè)計(jì)用于快速，簡(jiǎn)單的非破壞性涂層厚度測(cè)量，有兩種型號(hào)：MiniTest 70 F，內(nèi)置傳感器用于測(cè)量應(yīng)用于鋼上的非磁性涂層MiniTest 70 FN，內(nèi)置雙傳感器，用于測(cè)量非磁性 涂覆在鋼上的涂層和有色金屬上的絕緣涂層。

MiniTest 7400涂層測(cè)厚儀全新技術(shù) 傳感器集成數(shù)字信號(hào)處理，利用這項(xiàng)新技術(shù)，ElektroPhysik為創(chuàng)新的涂層厚度測(cè)量設(shè)定了新的基準(zhǔn)。高精度，的重現(xiàn)性，高溫穩(wěn)定性以及出色的適應(yīng)性，這些是SIDSP®的主要特性。創(chuàng)新的生產(chǎn)技術(shù)結(jié)合自動(dòng)校準(zhǔn)程序，其中每個(gè)傳感器單獨(dú)校準(zhǔn)允許Z高質(zhì)量的MiniTest 7400傳感器。充分利用SIDSP®技術(shù)所提供的出色的基本傳感器特性。

MINITEST 2100測(cè)厚儀現(xiàn)貨ElektroPhysik品牌優(yōu)勢(shì) 儀器具有數(shù)據(jù)處理功能；所有型號(hào)均可配所有探頭；可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。如果校準(zhǔn)正確，所有讀數(shù)將保持在允許誤差范圍之內(nèi)（見(jiàn)技術(shù)數(shù)據(jù)）。 強(qiáng)磁場(chǎng)、大電流（如變壓器輸出端、母線附近）會(huì)使測(cè)量顯示延遲。 用統(tǒng)計(jì)程序在一個(gè)點(diǎn)多次測(cè)讀，校準(zhǔn)和測(cè)量會(huì)更加.Minitest